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IEC 60749-37-2008 半导体装置.机械和气候试验方法.第37部分:用加速计的电路板级落锤试验方法

作者:标准资料网 时间:2024-05-12 20:27:13  浏览:9997   来源:标准资料网
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【英文标准名称】:Semiconductordevices-Mechanicalandclimatictestmethods-Part37:Boardleveldroptestmethodusinganaccelerometer
【原文标准名称】:半导体装置.机械和气候试验方法.第37部分:用加速计的电路板级落锤试验方法
【标准号】:IEC60749-37-2008
【标准状态】:现行
【国别】:国际
【发布日期】:2008-01
【实施或试行日期】:
【发布单位】:国际电工委员会(IX-IEC)
【起草单位】:IEC/TC47
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:加速计;应用;壳体;气候的;气候试验;部件;定义;跌落试验;电气工程;电子的;电子设备及元件;失败分析;失败标准;仪器;力学;机械测试;印制电路板;半导体器件;半导体;测试
【英文主题词】:Accelerationmeasuringinstruments;Accelerometers;Applications;Bodies;Climatic;Climatictests;Components;Definitions;Design;Droptests;Electricalengineering;Electronic;Electronicequipmentandcomponents;Failureanalysis;Failurecriterion;Instruments;Mechanic;Mechanicaltesting;Printed-circuitboards;Semiconductordevices;Semiconductors;Standardizations;Testing
【摘要】:ThispartofIEC60749providesatestmethodthatisintendedtoevaluateandcomparedropperformanceofsurfacemountelectroniccomponentsforhandheldelectronicproductapplicationsinanacceleratedtestenvironment,whereexcessiveflexureofacircuitboardcausesproductfailure.Thepurposeistostandardizethetestboardandtestmethodologytoprovideareproducibleassessmentofthedroptestperformanceofsurface-mountedcomponentswhileproducingthesamefailuremodesnormallyobservedduringproductleveltest.Thepurposeofthisstandardistoprescribeastandardizedtestmethodandreportingprocedure.Thisisnotacomponentqualificationtestandisnotmeanttoreplaceanysystemleveldroptestthatmaybeneededtoqualifyaspecifichandheldelectronicproduct.ThestandardisnotmeanttocoverthedroptestrequiredtosimulateshippingandhandlingrelatedshockofelectroniccomponentsorPCBassemblies.TheserequirementsarealreadyaddressedintestmethodssuchasIEC60749-10.Themethodisapplicabletobothareaarrayandperimeter-leadedsurfacemountedpackages.Thistestmethodusesanaccelerometertomeasurethemechanicalshockdurationandmagnitudeappliedwhichisproportionaltothestressonagivencomponentmountedonastandardboard.ThetestmethoddescribedinthefutureIEC60749-401usesstraingaugetomeasurethestrainandstrainrateofaboardinthevicinityofacomponent.Thedetailedspecificationstateswhichtestmethodistobeused.
【中国标准分类号】:L30
【国际标准分类号】:31_080_01
【页数】:39P;A4
【正文语种】:英语


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基本信息
标准名称:硅抛光片表面平整度测试方法
英文名称:Test methods for surface flatness of silicon polished slices
中标分类: 冶金 >> 金属理化性能试验方法 >> 金属物理性能试验方法
ICS分类:
替代情况:GB 6621-1986;被GB/T 6621-2009代替
发布部门:国家技术监督局
发布日期:1995-04-18
实施日期:1995-01-02
首发日期:1986-07-26
作废日期:2010-06-01
主管部门:国家标准化管理委员会
归口单位:全国半导体材料和设备标准化技术委员会
起草单位:电子部标准化所
出版社:中国标准出版社
出版日期:1900-01-01
页数:平装16开, 页数:11, 字数:21千字
适用范围

本标准规定了用相干光的干涉现象测量硅抛光片表面平整度的方法。本标准适用于检测硅抛光片的表面平整度,也适用于检测硅外延片和类镜面状半导体晶片的表面平整度。

前言

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所属分类: 冶金 金属理化性能试验方法 金属物理性能试验方法
【英文标准名称】:Photography;processedsafetyphotographicfilms;storagepractices
【原文标准名称】:摄影技术.已冲洗安全照相胶卷.贮存方法
【标准号】:ISO5466-1992
【标准状态】:作废
【国别】:国际
【发布日期】:1992-12
【实施或试行日期】:
【发布单位】:国际标准化组织(ISO)
【起草单位】:ISO/TC42
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:摄影材料;摄影;保存;安全影片;存储条件;储存;摄影胶片;影片
【英文主题词】:photography;films;safetyfilms;preservation;photographicmaterials;storagecondition;storage;photographicfilm
【摘要】:
【中国标准分类号】:A15
【国际标准分类号】:7720
【页数】:11P;A4
【正文语种】:英语



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