EN 60749-34-2004 半导体器件.机械和气候试验方法.第34部分:电力循环

作者:标准资料网时间:2024-05-26 19:31:12 浏览:8758 来源:标准资料网

【英文标准名称】:Semiconductordevices-Mechanicalandclimatictestmethods-Part34:Powercycling(IEC60749-34:2004);GermanversionEN60749-34:2004
【原文标准名称】:半导体器件.机械和气候试验方法.第34部分:电力循环
【标准号】:EN60749-34-2004
【标准状态】:现行
【国别】:
【发布日期】:2004-10
【实施或试行日期】:2004-10-01
【发布单位】:欧洲标准学会(EN)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:试验;定义;负载改变;模拟;环境试验;电子工程;电学测量;试验条件;机械试验;故障;半导体;电力电子学;气候试验;电气工程;半导体器件;耐力;组件;集成电路;电子设备及元件
【英文主题词】:Climatictests;Components;Definition;Definitions;Electricalengineering;Electricalmeasurement;Electronicengineering;Electronicequipmentandcomponents;Environmentaltesting;Failure;Integratedcircuits;Loadalternation;Mechanicaltesting;Powerelectronics;Resistance;Semiconductordevices;Semiconductors;Simulation;Testing;Testingconditions
【摘要】:
【中国标准分类号】:L40
【国际标准分类号】:31_080_01
【页数】:11P.;A4
【正文语种】:英语

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